Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Defects in AlN: High-frequency EPR and ENDOR studies

Orlinskii S., Baranov P., Bundakova A., Bickermann M., Schmidt J.

Дата публикации: 2009

Дата публикации в реестре: 2020-02-29T23:08:29Z

Аннотация:
Ключевые слова:
AlN, Defect, Donor, ENDOR, EPR, ESE, Negative U

Тип: Article

Источник: SCOPUS09214526-2009-404-2324-SID74349123009

Другие версии документа

Defects in AlN: High-frequency EPR and ENDOR studies

Связанные документы (рекомендация CORE)

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core