Spectral ellipsometry of cobalt-ions implanted silicon surface - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Spectral ellipsometry of cobalt-ions implanted silicon surface

Bazarov V., Valeev V., Nuzhdin V., Osin Y., Gumarov G., Stepanov A.

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2020-02-29T23:21:53Z

Аннотация:

Ключевые слова:
Implanted silicon, Ion implantation, Kerr effect, Magnetic layers, Spectral ellipsometry

Тип: Conference Paper

Источник: SCOPUS-2015-233-234-SID84945219125

Другие версии документа

Spectral ellipsometry of cobalt-ions implanted silicon surface

Связанные документы (рекомендация CORE)