Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T11:47:30Z

Тип: Научный доклад (Working Paper)

Другие версии документа

Изучение понятия неопределенности измерений в курсе «Электрические и магнитные измерения»Метод измерения параметров глубоких центров в полупроводниковых структурах в условиях сильного электрического поляМетод измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в P-N-структурахФотоэлектрический метод измерения времени жизни носителей заряда в р-n-структурахРазработка теоретических, схемотехнических и конструктивно-технологических основ построения первичных преобразователей и алгоритмов обработки сигналов первичных преобразователей информационно-измерительных системРазработка принципов построения систем оптической диагностики на основе широкодиапазонных первичных преобразователейРазработка фотоэлектрических сенсоров, методов контроля и исследование одноэлементных фотоэлектрических преобразователей для многопараметрических измерений характеристик оптического излученияРазработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметров до 200 мм. Часть 2. ПриложенияРазработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметров до 200 мм. Часть 1