Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов

Алексеев, В. Ф.; Журавлев, В. И.; Alexeev, V. F.; Zhuravliov, V. I.

Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов

Алексеев, В. Ф., Журавлев, В. И., Alexeev, V. F., Zhuravliov, V. I.

Дата публикации: 2005

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:38:57Z

Аннотация:

Приведен анализ тепловых моделей, описывающих деградацию полупроводниковых струк- тур (ПС) на воздействие мощных электромагнитных импульсов (МЭМИ). Показаны основ- ные способы описания тепловой нестационарности в полупроводниковом кристалле при импульсном нагреве в зависимости от мощности и длительности импульса. Обсуждается необходимость учета температурной зависимости теплофизических свойств полупроводни- ка при моделировании тепловых полей.

Ключевые слова:
доклады БГУИР, полупроводниковая структура, тепловой пробой, тепловые модели, МЭМИ

Тип: Статья