Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах, а именно к технике определения диэлектрической проницаемости материалов. Способ включает в себя определение действительной G и мнимой B составляющих эквивалентной нормированной проводимости при использовании волноводной системы с расположенным на выходе подвижным короткозамыкателем, имеющим волноводную камеру с диэлектрическим стерженьком, незаполненным или заполненным исследуемым материалом, и дальнейшего расчета значений комплексной диэлектрической проницаемости ε и ее действительной ε' и мнимой ε" составляющих.